扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）是一种能够在纳米尺度上研究样品表面形貌和物理化学性质的高分辨率显微镜。它通过探针与样品表面相互作用，检测两者之间的物理量变化，从而实现成像。其广泛应用于物理学、化学、材料科学、生物学和纳米技术等领域。例如：研究材料的表面形貌、纳米结构和原子排列；研究材料的电学、磁学、力学性质；应用于纳米加工与操控，实现对器件表面的原子级别操控和成像比如原子移动、表面修饰等。扫描探针显微镜凭借其高分辨率和多样化的成像模式，已成为纳米科学研究中不可或缺的工具。
XY: 4 um/1 um (RT/5K)@220V Z: 1.4 um/0.2 um
X/Y: ±7.5 mm; Z: 300 mm (MAX); R1: 179°
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